芯片翘曲测量仪Core9100a回流焊加热翘曲测量仪4DScanner 芯片翘曲测量仪Core9100a概要:运用4D动画技术、测量、观察样品加热时的形状变化 芯片翘曲测量仪Core9100a设备效果图 芯片翘曲测量仪Core9100a优点: ·Core9100a高清晰还原回流环境 采用与实际回流环境相近的对流加热方式。 ·芯片翘曲测量仪Core9100a的温度曲线设置方法简单 仅用软件便可简单设置温度曲线。可重现与实际回流炉相同的温度曲线。 ·芯片翘曲测量仪Core9100a采用直观的3D图像 已拍视频中的高度数据以比色刻度尺的形式显示,可直观把握芯片翘曲变化之处。 可简单、自由调节3D图像、比色刻度尺的深浅度、高度缩尺。 ·芯片翘曲测量仪Core9100a能提取准确的数据 左右两侧各一台投影仪快速投射形成条纹,*的照相机透过玻璃拍摄计算高度数据。 正因为作呕两侧各一台投影仪,比一台相比更能正确识别返回的光,减少杂音,能获取准确数据。 ·测量范围广,可同时扫描数个样品。 ·芯片翘曲测量仪Core9100a实现真正意义的翘曲度测量 4DScanner从玻璃面开始测量高度。 ·**值测量方式不放过任何一个贴装不良 ·记录以测信息,实现自动化操作 ·图文表示使操作更直观 ·办公化操作 芯片翘曲测量仪Core9100a一般规格 名称 4DScanner 型号 Core9100a(标准型) Core9110a(高分辨率型) 电源 AC200V±5%、AC100V±10%(50/60Hz) 消耗电力 约5.5KVA 空气压力 0.5~0.6Mpa 空气消耗量 约500L/min 加热用:约250L/min 冷却用:约250L/min 外形尺寸 测量单元: (W)303mmX(D)435mmX(H)476mm 不含凸起部位 控制单元: (W)300mmX(D)390mmX(H)210mm 不含凸起部位 安装空间 (W)1800mmX(D)750mmX(H)750mm 重量 测量单元:约37.0kg 控制单元:约13.0kg 使用周围温度 25℃±5℃ 芯片翘曲测量仪Core9100a加热规格 加热器 热风加热器 200V 加热器寿命 约1000h 加热方式 热风(对流加热方式) 加热温度 常温~300℃ (170℃以上时,加热时间调节为10分钟以内) (250℃以上时,加热时间调节为不足5分钟) 加热范围 (W)67mmX(D)67mmX(H)15mm 样品放置范围 Core9100a (W)67mmX(D)67mmX(H)15mm Core9110a (W)19mmX(D)19mmX(H)15mm 芯片翘曲测量仪Core9100a测量规格 (标准型) 测量范围(XY) 扫描一次:(X)33.5mmX(Y)33.5mm 扫描两次:(X)67.0mmX(Y)33.5mm 扫描四次:(X)67.0mmX(Y)67.0mm 测量范围(Z) 5mm 同一性 2μm *使用我司基准平面样品,binning ON、3x3平均化过滤1次、仅传感器 分辨率(XY) 18.5μm 分辨率(Z) 约0.5μm *将Z坐标图像的各个像素的深度值转换成实际尺寸(μm)时的系数为0.5 摄像传感器 黑白CMOS摄像传感器 像素尺寸 419万像素2048X2048 快门速度 50μs~200ms 光源 LED(红、蓝) 测量规格 Core9110a(高分辨率型) 测量范围(XY) 扫描一次:(X)10.0mmX(Y)10.0mm 扫描两次:(X)19.0mmX(Y)10.0mm 扫描四次:(X)19.0mmX(Y)19.0mm 测量范围(Z) 1.5mm 同一性 1μm *使用我司基准平面样品,binning ON、3x3平均化过滤1次、仅传感器 分辨率(XY) 9.5μm 分辨率(Z) 约0.25μm *将Z坐标图像的各个像素的深度值转换成实际尺寸(μm)时的系数为0.25 摄像传感器 黑白CMOS摄像传感器 像素尺寸 198万像素1408X1408 快门速度 50μs~200ms 光源 LED(红、蓝)